综合性分析探针台测试系统

CINDBEST CH-8|8"~12" 综合性分析探针台测试系统特点/应用 

◆ 最大可用于 12 英寸以内样品测试 

◆ 同轴丝杠传动结构，线性移动

 ◆ 大手柄驱动，操作舒适，无回程差设计

 ◆ 针座平台快速、微调升降功能 

◆ 可搭配多种类型显微镜 

◆ 晶片测试、光电器件测试、PCB/IC 测试、射频测试、高压大电流测试等 

◆ 结构模块化设计，可无缝升级

 ◆ 探针台可根据客户要求定制。

CH-12 综合性分析探针台测试系统

台体：型号 CH-8/CH-12 

样品台尺寸 8 英寸/12 英寸 

水平旋转 可 360 度旋转，可微调 15 度，精度 0.1 度，

带角度锁死装置 

2X-Y 

移动行程 8 英寸*8 英寸/12 英寸*12 英寸X-Y 

移动精度 10 微米/1 微米样品固定 真空吸附，

中心吸附孔，多圈吸附环针座平台 U 型针座平台，

最多可放置 10 个探针座平台升降 可快速升降 6mm/可微调升降 25mm

背电极测试 样品台电学独立悬空，4mm 插孔可接背电极

外形尺寸 840mm 长*600mm 宽*700mm 高/950mm 长*700mm 宽*700mm 高

 重量 约 100 千克/150 千克